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智能数据引擎平台
YMS
良率管理系统

产品概览

  • 工厂管理的工程数据分析系统
    帮助用户用更高、更全面的视角、更专业的模型、准确的解决数据分析中的问题
  • 基于半导体工厂的生产、设备、厂务、质量等运营过程数据
    运用统计方法和模型进行整合
  • 多年积累的客户实施经验

    增加新的系统特性和增强模块

智能工具与丰富应用场景

功能特点

  • 01
    — 模块一 —

    数据管理及BI模块

  • 02
    — 模块二 —

    标准统计模型和图标模板

  • 03
    — 模块三 —

    基于业务层的数据整合管理和分析

  • 04
    — 模块四 —

    定制化分析模型模板，与FDC，ADC系统整合等

优势效果

  • 面板行业定制化全厂良率趋势模板
  • 半导体CP良率与Defect Map Overlay管理
  • 半导体CP良率与Defect Map Overlay管理

解决方案

半导体封测智能制造方案
半导体封测智能制造方案（国内前10封测大厂案例）
智能远程集控中心
节约人力30%以上 人员效率提升80% 设备效率提升3%~5%

进一步了解

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