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智能数据引擎平台
APC/R2R
先进制程管理系统

产品概览

  • APC应运而生
    针对半导体产业关键尺寸不断缩小、集成度不断提高及晶原尺寸不断扩大的产业现况
  • 改善与加强
    产品良率、Rework 次数以及有效产能
  • 制程品质和产能间达到“双赢”

智能工具与丰富应用场景

APC1.png

功能特点

  • 01
    —降低pilot wafer用量—

    借由准确feedback,可以在最短时间内使输出值接近目标值,可以大幅减少 pilot wafer 的使用

  • 02
    — 改善产品Cpk —

    APC可以使产品有效控制在目标值附近,保证产品质量

  • 03
    — 减少OOS发生率 —

    将可能影响因子完整考量到算法中,能有效降低outliner的发生

  • 04
    — 减少MO发生率 —

    经由完整系统运作,可以大幅减少需要人员操作的机会,并加上系统中对于补偿值的卡控从而减少MO的发生

优势效果

  • 虚拟量测
  • 设备健康度监控
  • 图像缺陷诊断
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