产品中心
Product center
能够查询缺陷数据并对缺陷数据进行编辑,可自由选择要进行分析的缺陷数据进行不同分析
将缺陷点根据坐标转换成缺陷Map图,可快速查看出每片产品的缺陷分布情况
可将不同产品缺陷Map堆叠到一起,从而快速分析出缺陷高发位置以及缺陷聚集形态,并于设备结构坐标做对比
可通过同一产品在不同阶段的坐标进行对比,从而判断和追溯缺陷的产生原因,从而分析出缺陷产生的原因